簡介：利用光的獨特性質精確測量厚度，非接觸式測量，不會造成元件表面損壞或變形。最多可同時測量31層厚度，最高精度±0.1微米，集成裝置，操作簡單。適用于光學元件、透鏡組件、隱形眼鏡及人工晶狀體、醫用導管窺鏡、顯示屏、半導體、拋光玻璃等各種厚度及空氣間隔測量。

簡介：利用光的獨特性質精確測量厚度，非接觸式測量，不會造成元件表面損壞或變形。最多可同時測量31層厚度，最高精度±0.1微米，集成裝置，操作簡單。適用于光學元件、透鏡組件、隱形眼鏡及人工晶狀體、醫用導管窺鏡、顯示屏、半導體、拋光玻璃等各種厚度及空氣間隔測量。

Bristol Instruments提供了一系列測厚儀產品，可方便地測量厚度，并具有極高的測量精度以及重復性，以適用于大部分的應用需求。更重要的是，這些產品采用了一種極為有效的技術，即使用非接觸式光學探針進行無損檢測，同時這種技術還可以同時測量多層膜的厚度。