美國Bristol光學測厚儀

Bristol Instruments提供了一系列測厚儀產品，可方便地測量厚度，并具有極高的測量精度以及重復性，以適用于大部分的應用需求。更重要的是，這些產品采用了一種極為有效的技術，即使用非接觸式光學探針進行無損檢測，同時這種技術還可以同時測量多層膜的厚度。

產品特點：

·可測量硬材料和軟材料，并且不會造成損壞或變形

·用于精確定位測量位置的可見光束

·同時測量多達31層

·使用內置的固有長度標準進行連續校準

·測量置信水平≥99.7%

·可追溯至NIST標準

·測量頻率高達20赫茲

·使用USB或以太網進行PC通訊

·提供基于Windows的光學測量軟件，用于設置測量參數和輸出測量數據

·使用LabVIEW NET或自定義編程進行自動數據報告，無需專用PC

軟件測量界面：

應用領域：

l  光學元件和透鏡組件

可測量單個鏡片以及鏡頭組包括空氣間隔

l  隱形眼鏡

測量中心厚度、矢高和群折射率

可同時測量壁厚、內徑和外徑，管壁厚度、管頸和管錐的壁厚

l  LCD, LED, OLED 和 AMOLED 顯示屏

可測量總厚度和各層厚度，包括LOCA（液體光學透明粘合劑）層

l  半導體

硅/砷化鎵晶片

l  玻璃拋光

測量化學腐蝕前后的厚度或拋光工藝，使玻璃板更薄、更輕。