簡介：利用光的獨特性質精確測量厚度，非接觸式測量，不會造成元件表面損壞或變形。最多可同時測量31層厚度，最高精度±0.1微米，集成裝置，操作簡單。適用于光學元件、透鏡組件、隱形眼鏡及人工晶狀體、醫用導管窺鏡、顯示屏、半導體、拋光玻璃等各種厚度及空氣間隔測量。